product#17 应用报告摘要

使用AOTF近红外光谱分析技术测量合成材料带的涂层厚度

Brimrose AOTF自由空间近红外光谱仪用来扫描含有不同涂层厚度的五种复合带的光谱数据。利用光谱数据和相应的涂层厚度创建一个PLS1回归模型。该回归模型结果表明,利用光谱数据并结合回归模型准确、精确和可靠地分析复合带的涂层厚度是切实可行的。
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